晶體應(yīng)用線(xiàn)路測(cè)試服務(wù)
時(shí)間: 2019-03-26 閱讀: 1577
晶體測(cè)試服務(wù)
我們?yōu)榭蛻?hù)提供專(zhuān)業(yè)可技術(shù)支援，通過(guò)選用最合乎性?xún)r(jià)比的頻率器件，以達(dá)致成本優(yōu)化及性能的穩(wěn)定。
以超過(guò)10年的晶體測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，以及有著符合EIA 512和IEC 444 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的專(zhuān)業(yè)儀器，HKC可為客戶(hù)提供各類(lèi) 測(cè)試服務(wù)。
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選用其他供應(yīng)商引起的問(wèn)題
針對(duì)大多數(shù)客戶(hù)自身并沒(méi)有晶體測(cè)試設(shè)備，某些晶體生產(chǎn)商會(huì)采用一種特殊營(yíng)銷(xiāo)策略：規(guī)格書(shū)里對(duì)于晶體參數(shù)的描述并不完全，結(jié)果，當(dāng)客戶(hù)依照這些資料選用其他供應(yīng)商，新樣品或不能通過(guò)工程部IQC或生產(chǎn)測(cè)試。
準(zhǔn)確的晶體測(cè)量?jī)x器能有效地避免以上情況的發(fā)生，并能節(jié)省樣品生產(chǎn)的時(shí)間?？蛻?hù)如需測(cè)試，請(qǐng)?zhí)峁?0片以上現(xiàn)用的樣品。
但是，在此情況下，測(cè)試樣品并非最好的解決方法。不論樣品數(shù)量的多少，都不能反映出大量生產(chǎn)時(shí)的偏移及參數(shù)平均值。
我們建議客戶(hù)測(cè)量實(shí)際的應(yīng)用電路, 這樣更能得出詳細(xì)的數(shù)據(jù)，以便得出理想的晶體參數(shù)。
